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程序设计缺陷分析与实践, 尹浩,于秀山编著

ISBN:
978-7-121-12969-8 价格: CNY36.00
语种:
chi
题名:
程序设计缺陷分析与实践 cheng xu she ji que xian fen xi yu shi jian / 尹浩,于秀山编著 ,
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 电子工业出版社 出版日期: 2011
载体形态:
268页 24cm
摘要:
本书结合作者多年软件测试经验,重点总结了C/C++和Java语言在程序设计方面存在的各种缺陷。全书共5章2个附录,分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析等内容。
主题:
程序设计 缺陷
中图分类:
TP311.1 版次: 5
主要著者:
尹浩 yin hao 编著
主要著者:
于秀山 yu xiu shan 编著
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限定所在馆: 限定所在馆藏地点: 限定馆藏状态:
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